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CTS-2020探傷儀檢測應用實例

更新時間:2022-04-27   點擊次數:1826次

CTS-2020探傷儀檢測應用實例

5.1 JB4730-2005標準應用例子

使用CTS-2020探傷儀,2.5Z10×10K2探頭,JB4730-2005標準,對20mm厚鋼板的對接焊縫進行檢測,工作程序一般如下:

5.1.1 儀器參數初步設定

(1) 探測范圍=“200mm",材料聲速=“3230m/s",脈沖移位=“0"

(2) 阻尼=“低",發射強度=“低",雙探頭=“off",重復頻率=“6"

(3) 抑制=“0%",工作頻率=“1~4MHz",檢波方式=“雙向"

(4) a閘門方式=“正",a閘門寬度=“15mm",a閘門電平=“20%"

(5) 測試點選擇=“前沿",顯示選擇=“Sa"

校正探頭參數和DAC曲線制作時,工件厚度可設為“100mm"。實際探傷時,根據探測工件厚度進行設定,本例探傷時,工件厚度=“20mm"。

5.1.2 探頭參數測試

利用CSK-IA和CSK-IIIA試塊,按以下步驟執行:

(1) 測定前沿長度X和探頭零點:用探頭對CSK-IA試塊R100進行掃射,找到回波最高點,使a閘門套住該回波,調節探頭零點值,使儀器顯示屏右上方Sa數值達到100.0為止。這時,讀取探頭入射點到探頭殼前端的距離值,即為前沿長度X。探頭零點值即為探頭晶片到入射點間的有機玻璃聲時。

(2) 探頭角度(或K值)的測定:在反射孔深度欄輸入30mm,孔徑欄輸入1mm,用被測探頭掃射CSK-IIIA試塊上深度為30mm的Φ1×6孔,找到回波最高點后,使a閘門套住該回波,將角度測量置為“on",此時測量結果顯示在角度和K值欄中,提示欄提示“是否刷新?",按向上調節鍵 ▲ ,確認刷新角度和K值。測試完畢后可用深度為20mm的Φ1孔來校驗。

5.1.3 制作DAC曲線

操作:

(1) 設定測試點選擇=“峰值",DAC曲線=“on",開始制作曲線。

(2) 用已測探頭掃射CSK-IIIA試塊上深度為10mm的Φ1孔,找到回波最高點,使閘門套住該回波,調節回波高度為80%,選中DAC回波欄,按 打印 鍵,使DAC回波=“1",此時已記錄了第一個回波參考點,并畫出第一段曲線。

(3) 重復(2)項操作,依此記錄下20mm、30mm、40mm等由淺到深的孔的回波。當較深距離的參考回波幅度小于20%屏幕顯示幅度時,可增加儀器靈敏度(增益值),以提高回波幅度,方便記錄該回波參考點。

(4) 在完成DAC回波操作,記錄下所需回波參考點后,一組DAC曲線則制作完成。按JB4730-2005標準,測長線(評定線)、定量線、判廢線的靈敏度分別為:Φ1×6-9dB、Φ1×6-3dB、Φ1×6+5dB。所以,將菜單項評定線、定量線、判廢線分別設定為:“DAC-9dB"、“DAC-3dB"、“DAC+5dB"。另外工件表面補償一般要4dB,所以增益校正設置為“+4dB" 。曲線選擇設定為“定量線"。

(5) 保存當前儀器狀態設定及DAC曲線在空白數據集內,記錄好該曲線的存儲號。

5.1.4 應用閘門定量與定位

現場檢測時將原先作好的DAC曲線從存儲號中調出,將顯示選擇設置為“HadB",當DAC曲線測量范圍內有可疑回波時,用a閘門套住該回波,屏幕右上方顯示的數字如果為“+5.5",該數字代表閘門內回波峰值與當前選中曲線(“定量線")的dB差,若高于為“+" ,低于為“-"。所以該回波當量應當為:Φ1×6-3dB+5.5dB=Φ1×6+2.5dB,屬二區缺陷。缺陷定量時無需調節增益按鈕和增益校正。

缺陷的相關數據顯示在波形的下方:波高百分比、垂直距離、水平距離和聲程等,通過移動閘門起位來給不同缺陷進行定量和定位。

5.2 GB/T11345-1989標準應用例子

使用CTS-2020探傷儀,2.5Z10×10K2探頭,按GB/T11345-1989標準B級驗收,對20mm厚鋼板的對接焊縫進行檢測,該方法也適合一般焊縫檢測,工作程序一般如下:

5.2.1 儀器參數初步設定

(1) 探測范圍=“200mm",材料聲速=“3230m/s",脈沖移位=“0"

(2) 阻尼=“低",發射強度=“低",雙探頭=“off",重復頻率=“6"

(3) 抑制=“0",工作頻率=“1~4MHz",檢波方式=“雙向"

(4) a閘門方式=“正",a閘門寬度=“15mm",a閘門電平=“20%"

(5) 測試點選擇=“前沿",顯示選擇=“Sa"

校正探頭參數和DAC曲線制作時,工件厚度可設為“100mm"。實際探傷時,根據探測工件厚度進行設定,本例探傷時,工件厚度=“20mm"。

5.2.2 探頭參數測試

利用CSK-IA和RB-3試塊,按以下步驟操作:

(1) 測定前沿長度X和探頭零點:用探頭對CSK-IA試塊R100進行掃射,找到回波最高點,使a閘門套住該回波,調節探頭零點值,使儀器顯示屏右上方Sa數值達到100.0為止。這時,讀取探頭入射點到探頭殼前端的距離值,即為前沿長度X。探頭零點值即為探頭晶片到入射點間的有機玻璃聲時。

(2) 探頭角度(或K值)的測定:在反射孔深度欄輸入30mm,孔徑欄輸入3mm,用被測探頭掃射RB-3試塊上深度為30mm的Φ3孔,找到回波最高點后,使a閘門套住該回波,將角度測量置為“on",此時測量結果顯示在角度和K值欄中,提示欄提示“是否刷新?",按向上調節鍵▲ ,確認刷新角度和K值。測試完畢后可用深度為20mm的Φ3孔來校驗。

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